程 璇 教授

东北工学院(现东北大学)工学学士(1983)

美国明尼苏达大学理学硕士(1991)、哲学博士(1993)

美国亚利桑那大学博士后(1993-1997)

厦门大学博士后(1997-1999)

厦门大学教授,博士生导师 (2005 - )


研究方向

我们小组的研究工作主要有两大方向:一个是有关质子交换膜和直接甲醇燃料电池寿命性能与膜电极微结构组成之间的关系,另一个是有关硅片表面微观污染和多孔硅微结构的制备与修饰。我们与美国气体技术研究院合作,率先开展了在单电池连续运行条件下同步对质子交换膜和直接甲醇燃料电池中的膜电极进行系统的研究,建立了各种表征方法,通过考察催化剂活性衰减和质子交换膜老化行为,探讨了电池性能衰退机理。我们测试了单电池长达4000小时,发现经过长期运行后膜电极中的阴、阳极催化剂颗粒发生团聚导致其表面活性降低,特别是阳极催化剂表面还有氧化钌生成,而质子交换膜的结晶度增加,磺酸基物种减少,表明膜发生了物理和化学老化。目前,我们又在探索甲醇渗透的表征手段,发展了电化学结合化学组成的分析方法,对甲醇渗透和阻醇机理展开研究。此外,我们也通过各种方法制备了单晶硅的纳微结构,并对多孔硅的形成及表面物种进行了研究。利用电化学相关的脉冲电流法、循环反向电位法和两步法(化学-电化学)制备出的多孔硅其孔径大小、多孔层厚度、表面物种和发光性能与制备方法有关。最近,我们在尝试对多孔硅表面进行各种化学修饰,从而构筑具有优良性能和控制组成的复合微结构。

近期主要论文

  1. Characterization of Catalysts and Membrane in DMFC Lifetime Testing , Electrochimica Acta, Vol. 51 (2006), pp. 4620-4625.
  2. Catalyst Microstructure Examination of PEMFC MEAs versus Time, Journal of Electrochemical Society, Vol. 151 (2004), pp. A48-52.
  3. Lifetime Studies of Catalyst Activity and Microstructure in a PEMFC, Fundamental Understanding of Electrode Processes, in Memory of Professor Ernest B. Yeager - Proceedings of the International Symposium, The Electrochemical Society, Inc., Pennington, New Jersey, U.S.A., 2003-30, 177-188 (2005).
  4. 碳载铂纳米微粒修饰的玻碳电极对甲醇的电催化氧化, 稀有金属材料与工程, Vol.34 (2005), pp. 950-953.
  5. 质子交换膜 Nafion 的导电性与物理老化, 高分子材料科学与工程, Vol. 21 (2005), pp. 181-185.
  6. 直接甲醇燃料电池中的甲醇渗透研究进展, 稀有金属材料与工程, Vol.3 3 (2004), pp. 571-575.
  7. 碳载 Pt 和 PtRu 催化剂的甲醇电氧化比较, 物理化学学报, Vol. 20 (2004), pp. 436-438.
  8. 质子交换膜燃料电池性能及催化剂表征, 厦门大学学报 ( 自然科学版 ), Vol. 42 (2003), pp. 756-762.
  9. Micro-contamination of Silicon Wafer Surfaces by Copper and Silver, Journal of Electrochemical Society, Vol. 150 (2003), pp. G112-116.
  10. Effect of Potential Steps on Porous Silicon Formation, Electrochimica Acta, Vol. 48 (2003), pp. 497-501.
  11. Electrochemical Investigations of Semiconductor Silicon Wafers during Wet Cleaning and CMP Processes, Semiconductor Technology, Proceedings of the First International Semiconductor Technology Conference (ISTC 2001), The Electrochemical Society, Inc., Pennington, New Jersey, U.S.A., 2 : 156-164 (2001).
  12. Characterizations of Porous Silicon Layers Formed on Modified Silicon Wafer Surfaces, Quantum Confinement VI: Nanostructured Materials and Devices, Proceedings of the Sixth International Symposium on Quantum Confinement, The Electrochemical Society, Inc., Pennington, New Jersey, U.S.A., 169-177 (2001)
  13. 微量铜铁对硅片表面污染的初步分析, 半导体学报, Vol. 26 (2005), pp. 63-69.
  14. 半导体硅片的 p-n 结和铜沉积行为的电化学研究, 半导体学报, Vol. 21 (2000), pp. 509-516.

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